Szczegóły obiektu: Evaluation of electrical resistivity, residual stress and surface roughness of sputtering indium tin oxide films with different thicknesses

Podobne obiekty

tile.noImage
tile.noImage
tile.noImage
Używamy plików cookies, by nieustannie zwiększać komfort przeglądania naszej strony internetowej. W celu uzyskania szczegółowych informacji, prosimy o zapoznanie się z dokumentem Polityki Prywatności