Opis

• Tytuł:
  Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał implantowany - elektroda probiercza : opis patentowy nr 176165
• Twórca:
  Żukowski, Paweł;
  Karwat, Czesław (1941- );
  Komarow, Faddiej F.;
  Latuszyński, Andrzej;
  Liśkiewicz, Jerzy;
  Mączka, Dariusz;
  Partyka, Janusz;
  Węgierek, Paweł
• Współtwórca:
  Politechnika Lubelska. Uprawaniony z patentu;
  Skrynicki, Wiesław (oprac.)
• Opis:
  Sposób pomiaru spadku napięcia na zestyku materiał impiantowany - elektroda probiercza, polegający na pomiarze spadku napięcia przy zadanej wartości prądu stałego i określonej sile docisku elektrody probierczej do materiału implantowanego charakteryzuje się tym, że badany materiał umieszcza się w implantatorze, kolejno poddaje się go implantacji, mierzy się spadek napięcia, podczas zatrzymania implantacji, przy czym pomiar spadku napięcia powtarza się przy kolejnych dawkach jonów implantowanych, aż do momentu osiągnięcia ustalonej wartości spadku napięcia w niezmiennym układzie pomiarowym i tych samych warunkach.
• Dostępność obiektu:
  Dostęp otwarty
• Prawa:
  Politechnika Lubelska
• Data:
  1995.06.08;
  1996.12.09;
  1993.06.30;
  2013
• Typ:
  Opis patentowy
• Zakres:
  G01N 27/00 Int.Cl.6.;
  G01R 31/00 Int.Cl.6.
• Format:
  application/pdf;
  full-text searchable
• Wydawca:
  Politechnika Lubelska
• Relacja:
  Opis zgłoszeniowy wynalazku PL 30905 (A1) 09.12.1996;
  Nr zgłoszenia: 309058.
• Dostawca danych:
  Biblioteka Cyfrowa Politechniki Lubelskiej
• Czy mogę z tego obiektu skorzystać?:
  poproś o pozwolenie
• Rodzaj zawartości:
  obrazy