Szczegóły obiektu: Investigations of free electrons in doped silicon crystals derived from Fourier transformed infrared measurements and ab initio calculations

Podobne obiekty

tile.noImage
tile.noImage
Używamy plików cookies, by nieustannie zwiększać komfort przeglądania naszej strony internetowej. W celu uzyskania szczegółowych informacji, prosimy o zapoznanie się z dokumentem Polityki Prywatności