Szczegóły obiektu: Characterized microstructure and electrical properties of hydrogenated nanocrystalline silicon films by Raman and electrical conductivity spectra

Podobne obiekty

tile.noImage
tile.noImage
Używamy plików cookies, by nieustannie zwiększać komfort przeglądania naszej strony internetowej. W celu uzyskania szczegółowych informacji, prosimy o zapoznanie się z dokumentem Polityki Prywatności