Szczegóły obiektu: Multi-technique characterisation of InAs-on-GaAs wafers with circular defect pattern
Instytucja dostarczająca:Czasopisma PAN
Opis
- Title:
- Creator:
- Contributor:
- Description:
- Object availability:
- Rights:
- Date:
- Type:
- Coverage:
- Publisher:
- Subject:
- Identifier:
- Data provider:
- Can I use it?:
- Type:
Podobne obiekty
Twórca:Boguski, Jacek | Wróbel, Jarosław | Złotnik, Sebastian | Budner, Bogusław | Liszewska, Malwina | Kubiszyn, Łukasz | Michałowski, Paweł P. | Ciura, Łukasz | Moszczyński, Paweł | Odrzywolski, Sebastian | Jankiewicz, Bartłomiej | Wróbel, Jerzy
Data:2023.02.24
Rodzaj zawartości:obrazy
Twórca:Odrzywolski, Sebastian | Kojdecki, Marek Andrzej | Złotnik, Sebastian | Kubiszyn, Łukasz | Wróbel, Jarosław
Data:2024.08.19
Rodzaj zawartości:obrazy
Twórca:Wróbel, Jarosław | Umana-Membreno, Gilberto A. | Boguski, Jacek | Złotnik, Sebastian | Kowalewski, Andrzej | Moszczyński, Paweł | Antoszewski, Jarek | Faraone, Lorenzo | Wróbel, Jerzy
Data:2023.02.24
Rodzaj zawartości:obrazy
Twórca:Kowalewski, Andrzej | Wróbel, Jarosław | Boguski, Jacek | Gorczyca, Kinga | Martyniuk, Piotr
Data:2019.04.01
Rodzaj zawartości:obrazy
Twórca:Marciniak, Piotr | Moszczyński, Paweł
Data:2016.12.31 | 2016
Rodzaj zawartości:obrazy
Twórca:Wróbel, Jerzy
Data:1998.12.31 | 1998
Rodzaj zawartości:pozostałe
Twórca:Wróbel, Jerzy
Data:2002.12.31 | 2002
Rodzaj zawartości:pozostałe
Twórca:Wróbel, Jerzy
Data:1997.12.31 | 1997
Rodzaj zawartości:pozostałe