polski

Object's details: Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej

tile.noImage
Provider:Biblioteka Cyfrowa Politechniki Śląskiej

Description

Similar objects

tile.noImage
Analiza elektrycznych własności struktur MIS na bazie GaAs oraz Si w oparciu o metodę spektroskopii impedancyjnej
Creator:Kochowski, Stanisław | Szydłowski, Michał
Date:2004.12.31 | 2004
Type:image
tile.noImage
Fenomenologiczna analiza stanów powierzchniowych w układzie półprzewodnik-dielektryk
Creator:Kochowski, Stanisław
Date:1996.12.31 | 1996
Type:image
tile.noImage
35 lat Wydziału Matematyczno-Fizycznego
Creator:Kochowski, Stanisław
Date:2004.12.31 | 2004
Type:image
tile.noImage
Analiza powierzchniowych procesów elektronowych w strukturze metal-SiO2-GaAs
Creator:Kochowski, Stanisław
Date:2001.12.31 | 2001
Type:text
tile.noImage
Zastosowanie metody fotonapięcia powierzchniowego do badań powierzchni półprzewodników
Creator:Adamowicz, Bogusława | Kochowski, Stanisław
Date:1989.12.31 | 1989
Type:image

FBC TeNe Project

Project co-financed by European Funds under the Operational Program Digital Poland for 2014-2020 (project no. POPC.02.04.00-00-0012 / 20-00)

More information about the project can be found at: https://tene.fbc.pionier.net.pl

European Funds. Digital Poland
Republic of Poland
Digital Libraries Federation
European Union - European Regional Development Fund

Copyright 2022 - The FBC was created by PSNC

We use files, through the cookie quality improvement layer of our website.For more information, please read the document Privacy Policy