Description

• Title:
  Thin film thickness determination using X-ray reflectivity and Savitzky–Golay algorithm
• Creator:
  Serafińczuk, Jarosław;
  Pietrucha, Jakub;
  Schroeder, Grzegorz;
  Gotszalk, Teodor P.
• Contributor:
  Gaj, Miron. Redakcja;
  Urbańczyk, Wacław. Redakcja
• Description:
  Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 315-322
• Object availability:
  free access
• Rights:
  Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright);
  Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
• Date:
  2011.12.31;
  2011
• Type:
  artykuł
• Language:
  English
• Source:
  <sygn. PWr A3481II>;
  http://aleph.bg.pwr.wroc.pl/F/?func=find-b&request=000122307+&find_code=SYS&adjacent=N&local_base=TUR&x=64&y=13&filter_code_1=WLN&filter_request_1=&filter_code_2=WYR&filter_request_2=&filter_code_3=WYR&filter_request_3=&filter_code_4=WFT&filter_request_4=&filter_code_5=WSB&filter_request_5= ;http://opticaapplicata.pwr.edu.pl
• Format:
  application/pdf
• Publisher:
  Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Relation:
  Optica Applicata;
  Optica Applicata, Vol. 41, 2011;
  Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2;
  Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
• Subject:
  optyka;
  X-ray reflectivity;
  thickness determination;
  Savitzky–Golay algorithm
• Data provider:
  Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa
• Can I use it?:
  seek permission
• Type:
  image