Description

• Tytuł:
  Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy
• Twórca:
  Szyszka, Adam;
  Ściana, Beata;
  Radziewicz, Damian;
  Macherzyński, Wojciech;
  Paszkiewicz, Bogdan;
  Tłaczała, Marek
• Współtwórca:
  Gaj, Miron. Redakcja;
  Urbańczyk, Wacław. Redakcja
• Opis:
  Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 281-288
• Dostępność obiektu:
  free access
• Prawa:
  Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright);
  Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
• Data:
  2011.12.31;
  2011
• Typ:
  artykuł
• Język:
  English
• Źródło:
  <sygn. PWr A3481II>;
  http://aleph.bg.pwr.wroc.pl/F/?func=find-b&request=000122307+&find_code=SYS&adjacent=N&local_base=TUR&x=64&y=13&filter_code_1=WLN&filter_request_1=&filter_code_2=WYR&filter_request_2=&filter_code_3=WYR&filter_request_3=&filter_code_4=WFT&filter_request_4=&filter_code_5=WSB&filter_request_5= ;http://opticaapplicata.pwr.edu.pl
• Format:
  application/pdf
• Wydawca:
  Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Relacja:
  Optica Applicata;
  Optica Applicata, Vol. 41, 2011;
  Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2;
  Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
• Temat i słowa kluczowe:
  optyka;
  scanning spreading resistance microscopy (SSRM);
  spreading resistance;
  GaAs;
  atomic force microscopy (AFM)
• Dostawca danych:
  Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa
• Czy mogę z tego obiektu skorzystać?:
  seek permission
• Rodzaj zawartości:
  image